衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻无损测试 四探针法

Nano, sub-micron scale film on substrate- Non-destructive test method of sheet resistance- Four probe method

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文件分类 标准导则-地方标准
文件编号 DB32/T4378-2022
发布日期 2022-10-23
实施日期 2022-11-23
适用区域 江苏省
是否有效 有效
国民经济代码
前言

本文件按照GB/T1.1-2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由江苏省石墨烯检测标准化技术委员会提出并归口。
本文件起草单位:江苏省特种设备安全监督检验研究院[国家石墨烯产品质量检验检测中心(江苏)]、苏州晶格电子有限公司、河南煜和科技集团有限公司、江苏华永烯科技有限公司、江南大学、无锡华鑫检测技术有限公司、中国矿业大学、烯源科技无锡有限公司。
本文件主要起草人:杨永强、丁海龙、区炳显、谢一麟、陈武魁、刘禹、魏宁,呼志跃、王云超、王勤生、马龙,李璐、屈晓兰、陈辉、秦继恩。

适用范围

本文件规定了采用导电橡胶探头进行衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜方块电阻四探针无损测试的方法。
本文件适用于目测平坦且表面存在纳米,亚微米尺度薄膜样品的方块电阻测定,方块电阻测试范围为1X10‘0.~1X10* 0。

文件预览
原文附件
DB32_T4378-2022衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法.pdf 【1.92 M】 下载  |  查看

附件概览

AI版

江苏省地方标准 DB32/T 4378—2022 概览
标题:衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜方块电阻无损测试 四探针法
适用范围
用于目测平坦的纳米、亚微米尺度薄膜的方块电阻测试。
测试范围1×10⁻⁴ Ω1×10⁴ Ω。
核心内容
1. 方法原理
使用直排四探针装置,通过直流电流测量电势差,结合几何修正因子计算方块电阻(公式:\( R_s = F \times \frac{V}

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